荧光寿命成像是一种光学成像技术，实验图像中像素的亮度代表荧光寿命，而非荧光强度。荧光寿命是分子受激发射光子之前保持其激发态的特征时间。荧光寿命不仅取决于特定的荧光团，还受分子间相互作用的影响，因而荧光寿命成像可以用于区分分子相互作用的不同阶段。并且由于荧光寿命不随分子浓度变化而改变，因此荧光寿命成像非常适合分子层次的生化反应的研究。

在各类荧光寿命成像方法中，时间相关单光子计数（TCSPC）可实现最高的时间分辨率和光子检测效率。上图显示了将荧光寿命成像与扫描共聚焦显微计数相结合的典型装置，可提供空间滤波，并改善轴向分辨率。设备主要构件包括：三轴压电定位扫描仪、皮秒脉冲激光和单光子探测器，所有信号均通过Time Tagger采集。

在基于时间相关单光子计数的荧光寿命成像实验中，通过选用超快激光器可以优化脉冲持续时间，单光子探测器和时间数字转换器的时间抖动则成为制约时间分辨率的关键参数。单光子雪崩探测器SPAD抖动一般为50—300 ps，先进的超导纳米线单光子探测器SNSPD目前已经可以实现低于15 ps的时间分辨率。为充分利用探测器的低抖动，时间数字转换器的抖动至少应小于单光子探测器抖动的一半。

基于Time Tagger系列构建的荧光寿命成像实验系统操作灵活、功能强大，可在运行时并行处理、存储所有信号，并最大限度地缩短用于技术准备和系统校准的时间。例如，您可以直接在软件中以1 ps的精度一键轻松补偿所有电缆延迟。虚拟通道使您能够同时采集多个探测器的计数以及多个探测器之间的符合事件。